Nowa generacja plecakowego systemu pomiarowego NavVis VLX

Niemiecka firma NavVis zaprezentowała drugą generację swojego mobilnego systemu skanowania VLX. Rozwiązanie ma wyróżniać przede wszystkim lepszy pomiar na dworze.

Jak wyjaśnia producent, pierwszą generację tego systemu (zaprezentowaną wiosnę ubiegłego roku) projektowano przede wszystkim z myślą o pomiarach wnętrz budynków. Klienci oczekiwali jednak od niej rozwiązania, które będzie radziło sobie również pod otwartym niebem. Odpowiedzią na te potrzeby jest właśnie druga generacja plecaka VLX.

Wyróżnia ją chociażby odporność na pył i wilgoć. Zastosowanie karbonowej konstrukcji pozwoliło ponadto zmniejszyć wagę i rozmiary urządzenia oraz poprawić komfort jego noszenia. Istotną zaletą nowego VLX jest także to, że po złożeniu system można przewozić samolotem jako bagaż podręczny.

Zmiany wprowadzono także w autorskich algorytmach SLAM (simultaneous localization and mapping) służących do łączenia chmury punktów. W nowej wersji powinny one sobie lepiej radzić np. z pomiarem roślinności, zapewniając wyższą wynikową dokładność danych.

Pierwsze dostawy systemu VLX II generacji zaplanowano na III kwartał br.

JK